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塑料包裝材料厚度是否均勻,是檢測其各項性能指標的基礎(chǔ)。包裝材料厚度不均勻,會影響到其阻隔、拉伸強度等性能;對材料厚度實施高精度控制也是確保質(zhì)量與控制成本的重要手段。
薄膜厚度測量儀,又被稱為薄膜測厚儀、膜厚測試儀、薄膜厚度儀等,是一種用于測量薄膜、薄片、塑料片材、鋁箔、銅箔、電池隔膜、紙張、紙板等材料厚度的儀器設(shè)備。
機械接觸式薄膜測厚儀的測試原理,是通過位移傳感器測試薄膜材料的厚度。在測試前,儀器的測量頭落在設(shè)備砧板上,傳感器讀取測量頭的初始位移值,測量頭抬起后,將試樣放置在砧板紙上,測量頭以同樣的壓力落在試樣上,傳感器讀取測量頭的位移值,兩次位移值之差則為試樣的厚度值。
薄膜厚度測量儀薄膜測厚儀技術(shù)參數(shù):
測試范圍(標配):0~2mm
分辨率:0.1μm
重復(fù)性:0.4μm
測量范圍(選配):0~6、0~12mm
測量間距:0~1000mm(可設(shè)定)
進樣速度:1.5~80mm/s(可設(shè)定)
測量方式:機械接觸式
薄膜測量壓力及接觸面積:17.5±1 kPa、50 mm2
紙張測量壓力及接觸面積:100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa(可選配置)、200 mm2
電源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
外形尺寸:370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)
郵箱:marketing@labthink.cn
地址:濟南市無影山路144號
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